什麼是IC測試插座，什麼是IC測試插座？

IC是半導體元器件產品的總稱，IC按功能可分為數字IC、模擬IC、微波IC等IC，其中，數字IC是近年來應用最廣泛、增長最快的IC品種。 數字IC是對數碼訊號進行傳輸、處理、處理的IC，可分為通用數字IC和專用數字IC。

至於職位，不是很清楚，但如果從英文翻譯來看，可能就是主管！

IC一般分為裸片和封裝晶圓兩種，一般來說，裸片在一般環境下是不能開啟的，存放在潔淨室中，對靜電有嚴格的要求，IQC到貨後只是大量的袋子，然後交給專門的儲藏室儲存， 盡量使用冰箱儲存，濕度在50%左右。

包裝件，一般可以當做測試板，在測試板上做一些IC插座（有壟斷）然後抽查，如果是大而正規的公司，那就另當別論了。

查詢我們希望對您有所幫助的產品資料。

IC測試。 北京：13717605936。

1、用途：機械手用於測試或燒錄DIP，SOP封裝的積體電路包含SOP和SSOP; dip;tssop；其他的正在開發中。

2.特點：有進料管、OK放料管和落落放料管，由電磁鐵驅動，將邊緣分揀到OK Fail管上。

有三種模式可供選擇：自動、OK 測試和失敗測試。

There 和 pause 模式分別用於檢修機器和暫時消除卡紙。

出料管的滿管數可由客戶自由設定。

重新測試的次數可以由使用者設定。

測試儀介面訊號的高低電平可由使用者設定。

當機械異常異常時，LED會顯示異常**，方便使用者排除故障。

可以顯示“OK Fail”的測試次數和測試總數。

3、注意訂單：客戶想提供IC樣品和IC管（配備IC），如果要用於測試，需要提供測試儀，如果要燒錄，需要提供燒錄機。

四、測試速度，視產品而定，一般為2000小時，其他測試治具一般為8小時，2000個PCB

IC測試插座（測試插座）是一種標準測試裝置，用於測試IC器件的電氣特性和電氣連線，以檢查製造缺陷和缺陷元件。

IC測試插座設計特點：

IC 測試插座使用帶有浮動 Z 軸壓板的夾殼頂蓋來提供封裝厚度公差。

低、中、高效能和高效能晶元測試探針。

高彈性彈簧測試探針適用於無鉛包裝。

封裝間距低至公釐。

採用不規則頂針位置的封裝。

散熱器可以內建在頂蓋或 IC 測試底座中。

以高效能塑料為基材。

陽極氧化鋁頂蓋。

每個測試套接字可以包含多個測試介面。

壽命 25000 外掛程式使用。

電氣效能：高達30GHz，-1dB損耗。

3A電流容量。

溫度範圍。 55°C+155°C，根據不同的測試探頭。