去濾波以提高縱向解像度

正如前文所述，由於在實際處理中存在各種誤傳，方位角解像度不可能很高，而且隨著解像度的提高，合成孔徑時間變長，而在合成孔徑較長的區域性時間下，之前關於雷達勻速直線運動的假設通常不再成立， 這使得運動補償非常複雜。另乙個原因是，過去由於訊號頻寬的限制，距離解像度通常在這個級別，為了匹配方位角和距離解像度，沒有必要使用全孔徑，Nashu讓波束寬度先通過預濾波的方法減小，從而達到降低方位角解像度的目的。

樓上是真的，D2是聚焦合成孔徑雷達理論上可以實現的最高橫向解像度。 但是，由於實踐中的諸多因素，無法達成此決議。 例如，從焦深的角度滾動高度來看，在實際處理中，考慮到硬體設計的複雜性和待機率解像度的要求，橫向匹配濾波器蓋振盪器的引數在一定距離範圍內使用相同的引數。

對成像質量的要求比較高，對焦深度要小一些。

最高細分岩石在方位角方向上的解像度可以達到d 2"條件：在正面觀察的情況下結果。 在綑綁下聚集不僅被打敗了。 限制四分之一波長。

印表機解像度，也稱為輸出解像度，是指列印輸出時橫向和縱向的英吋數。 解像度不僅與顯示的列印格式的大小有關，還受列印點之間的距離和列印尺寸等因素的影響。

縱向解像度第一區是指區分兩個相似反射介面對應地層厚度的能力，橫向解像度是指在水平方向上區分兩個相鄰地質戰鬥體之間最小距離的能力，以長度計。 它與接收裝置在水平方向上的布置以及源訊號的性質和被檢測目標的物理性質相同。

和其他因素。 該值越小，橫向解像度越高。

研究 BAI 表明，最佳解像度取決於 DU

在訊雜比頻譜方面，也就是說，提高解像度DAO率的關鍵是改善訊雜比頻譜。 影響解像度響應率和訊雜比的因素包括大地測量濾波、地震檢波器阻尼、動態校正和水平疊加以及反卷積。

大地測量濾波相當於乙個低通濾波器，與同時到達探測器的訊號相比，源產生的雜訊趨於頻率增加，與記錄上同時發生的訊號相比，訊雜比譜也可能在高頻方向上減小。

因此，克服環境雜訊非常重要，尤其是在檢波器附近。 吸收介質中的分散性需要補償。

風化層不僅影響訊號的幅度，而且與風化層的厚度和頻率產生非線性關係。 在不同的阻尼條件下，檢波器的脈衝響應是不同的，阻尼越大，脈衝響應越尖銳，對低頻分量有衰減作用。 在低頻雜訊較高的情況下，可以充分利用儀器的動態範圍，並具有較大的阻尼。

適當控制排列長度和切除引數的選擇，可以避免動態校正拉伸引起的高頻訊雜比降低。 實際上，反射係數序列與白色序列有很大不同，因此使用多通道平均反卷積運算元來改進動態校正前的反卷積結果。