是什麼原因導致薄膜電容器在潮濕中失效？

最近，有很多關於薄膜電容器的垃圾問題，是什麼原因？

對電容影響最大的引數是熱量、電流和電壓。

在高溫環境下，電容器的耐壓和電流值會相對衰減，限制為80度。

1.電壓擊穿是電容器內部短路或接近短路，電容器失效時影響很小。

2.過電流熔化，使電容器的接觸電阻過大，當電流繼續通過時，會產生熱量，效果會更差。

如果遇到潮濕天氣的問題，可以在倉庫裡放一台除濕機，把薄膜電容器放在乾燥通風的地方。 在乾燥天氣的情況下，將薄膜電容器與加濕氣體一起存放。 無論是生產還是倉儲，作為正規廠家都是特別的。

水分的吸收增加了電容器內部偶極子的數量，這對各個部分的電容、損耗角正切和絕緣電阻有可逆的影響。 這些發生在相對溫度低於 93% 的環境中，可以通過一段時間的乾燥過程恢復。 為恢復平衡變化而提供的資料與薄膜電容器和最終塗層的結構無關，而僅與吸濕或擴散的速度有關，這取決於：

1.電容器的最終油漆：水分會迅速進入被塗元件內部，並迅速擴散開來。 2.環境溫度和濕度。

吸收或擴散時間常數的典型值從半天（例如，對於具有最終塗層的電容器）到幾周（例如，對於具有塑料外殼的電容器）不等。

薄膜電容器長時間與濕氣接觸會產生不可逆的效果，直接接觸液態水，特別是對於塗層元件，或過度暴露在高環境溫度或露水中，都會影響薄膜電容器的金屬化層，導致薄膜電容器損壞。

它可能失敗的原因有幾個：

1.介質故障（非自我修復）;

2.介質的材質因環境、溫度等因素而變化;

3.介質洩漏;

4.內部電路和端子損壞或損壞。 對於電子電路電容器來說，除了上述原因外，反接和過電壓也會導致故障。

1.區域性放電是由於加工過程中介質中存在小氣隙而引起的，金屬化電容器的“過度自癒”造成氣隙，導致金屬化薄膜電容器在高壓作用下區域性放電，電容器內部發熱會迅速而大， 而且來不及消散，會對周圍介質造成進一步的破壞，區域性放電會加劇，形成惡性迴圈。

2.電容器的溫公升引起的損耗是理想電容器在執行中沒有量耗散，但由於介電損耗和電容器內部金屬電阻和接觸電阻的存在，電容器呈現出明顯的配置特性。

當有負載時，金屬化薄膜電容器公升溫，熱量通過電容器表面散發到周圍環境中，中間與表面之間建立溫度梯度，當發熱量小時，熱量平衡; 當發熱量大時，散熱不能平衡，電容器溫度公升高，導致失效，導致外殼膨脹、變形、開裂，薄膜熔化成團塊，嚴重時會發現燃燒等現象。

因此，損耗是發熱的來源，也是金屬化薄膜電容器失效的主要原因。

影響電感的原因有很多，一是與薄膜、引出端子等原材料有關，二是工藝問題。

該工藝，包括焊接、熱壓等工藝，都會影響其電感。

您可以檢查電容器的電容是否發生了變化，並且可以取下電容器，看看其焊接端麵或噴金端麵是否有任何異常。

您好，導致薄膜電容器容量下降的因素有：薄膜電容器的容量取決於薄膜金屬層面積的大小，因此容量下降主要是由於外部因素導致金屬塗層面積減少造成的。 在電容器製造過程中，薄膜層之間有微量的空氣，很難完全消除。

當電容器工作時，空氣可能會被電場電離。 臭氧是一種不穩定氣體，在室溫下分解成氧氣，是一種強氧化劑，在低濃度下可以瞬間完成氧化。 金屬化膜（由Zn Al組成）的金屬塗層在遇到被臭氧分解的氧氣後立即氧化，形成透明的非導電金屬氧化物Zno和Al2O3，這實際上表現為電路板面積的減小和電容器容量的減小。

因此，消除或減少薄膜層之間的空氣可以減緩電容衰減。 當膜層之間的空氣被外界水分侵入時，空氣的擊穿電位會降低，加速空氣的電離，產生大量的臭氧，氧化金屬化膜的金屬塗層，電容器的電容會迅速下降。

您好，在潮濕的環境中使用薄膜電容器會使薄膜電容器表面逐漸凝結水分，這些水分會增加薄膜電容器的洩漏傳導電流，導致電容器的損耗增加，如果薄膜電容器表面的水分或周圍環境中的水分進入電容器內部， 它會氧化和腐蝕電容器內部的金屬，也會導致薄膜電容器損耗的增加。

同樣，知旭薄膜電容器外部引線的氧化或腐蝕也會增加薄膜電容器的損耗。 因此，必須保證薄膜電容器的使用環境乾燥防潮。 在使用薄膜電容器時，我們也要注意周圍環境的溫度，這樣才能保證薄膜電容器的正常壽命！

此外，還需要選擇正規和合格的廠家生產的薄膜電容器，以使其更耐腐蝕。

薄膜電容器以金屬箔為電極，兩端用聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜重疊，纏繞成圓柱形結構。

由於原材料和製造工藝的原因，薄膜電容器在早期大多由於製造原因而損壞。

由於在製造過程中介質中可能存在雜質、機械損傷、針孔、清潔度低等問題，會引起過電壓、過電流和周圍高低溫，從而導致薄膜電容器介電擊穿的弱點。

擊穿過程中經常會產生火花，進一步擴大了範圍，導致多層短路甚至整個元件短路。

與擊穿元件串聯的元件上的電壓將增加，導致其餘組上的電壓增加，並通過每個元件的電流減少。

這一系列反應將導致單個元件的快速老化，從而增加熱量的產生。

同時，在較高電壓的作用下，板邊緣也會發生區域性放電。

經過一定時間後，與故障元件串聯的整組薄膜電容器會陸續擊穿，並連線新的組。

組數進一步減少，元件電壓進一步增加，過流現象更加嚴重，介質進一步劣化，溫度進一步公升高，電弧將進一步增加。

薄膜電容器的厚度也會影響電容器的自癒效能。

金屬膜越薄，其自癒效能越強，但與噴金層結合的脆弱性就越強。

如果要求薄膜電容器具有良好的自癒效能和足夠的厚度來提高噴金強度，那麼可以使用加厚邊緣的薄膜電容器，它可以承受加厚邊緣的金屬化薄膜芯的浪湧電流衝擊，工作可靠性高，自癒效能好，使用壽命長， 其理論壽命可長達100年。

您好，薄膜電容器損壞的主要原因。 這是因為分子具有很強的擴散能力，並且水分介質常數很大，損耗也很大，這導致電容器的電效能急劇惡化，例如絕緣電阻和耐壓強度的降低，介電損耗的正切增大， 以及電容的變化。特別是當環境溫度公升高時，水分子的擴散能力增強，因此高溫高濕環境（如85、85%RH）對電容器的電效能影響更大，導致產品故障率增加，可靠性降低和損壞。

國金申電容器分析失敗的主要原因有：

電容器耐壓不足，造成電壓擊穿薄膜，導致電容器故障。

使用超過電容器可以承受的最大電流的電流會導致電容器失效。

電容器內部有空氣導致電暈失效.

金屬化膜的薄氧化會導致電容器失效。