測量表面粗糙度的常用方法有哪些？

粗糙度測試儀的種類很多，具體選擇應根據工件的尺寸、材料和粗糙度值來確定。

一般來說，粗糙度計分為接觸式和非接觸式兩種，接觸式有兩種型別：台式和手持式，接觸輪廓儀是機械製造行業中最常見的應用; 非接觸式主要是白光干涉儀，精度最高，可以達到奈米級，主要用於超精密表面粗糙度測量，廣泛應用於半導體行業、3C行業、光學和高等院校。

<>目前的粗糙度測試儀是自動測量的，操作比較簡單，具體步驟參考廠家手冊。

下面可以告訴您SuperView W1光學3D白光干涉儀粗糙度分析的操作步驟：

將樣品放在夾具上，以確保樣品穩定;

將夾具放在舞台上;

檢查電機連線和環境噪音，確認儀器狀態;

使用操縱桿調整三軸位置，將樣品移動到鏡頭下方，定位樣品表面的干涉條紋;

完成掃瞄設定、命名等操作;

點選開始測量（進入3D檢視視窗旋轉調整一段時間）;

進入資料處理介面，點選“去除形狀”，使用預設引數，點選應用，得到樣品的表面粗糙度輪廓;

進入分析工具模組，點選引數分析，直接獲取表面粗糙度資料，點選右側引數標準替換引數標準，增加或刪除引數型別;

如果要獲取線粗糙度資料，則需要提取剖面線;

進入資料處理介面，點選“提取輪廓”圖示，選擇合適的方向輪廓線進行輪廓提取;

進入分析工具介面，點選“引數分析”圖示，點選右側的引數標準，檢視所需的線粗糙度相關引數，得到線粗糙度RA資料。

請點選輸入描述。

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粗糙度是指工件的加工表面不光滑的程度。 在切削過程中，進給引起的切削痕跡以波峰和波谷的形式出現，峰谷高度很小，一般在零點幾微公尺以上，因此表面粗糙度屬於零件表面的微觀形狀誤差。 其測量方法：

1）直接測量法：利用光學和電學儀器直接測量零件表面的相關引數，以確定粗糙度等級。

直接測量又分為接觸式測量和非接觸式測量。

2）比較測量法：將測量表面與標準粗糙度樣品進行比較，以評估粗糙度等級。粗糙度模板（又稱粗糙度標準塊）是一組由不同加工方法（車削、刨削、平銑、立銑、磨削等）製成的金屬塊。

3）壓印法：此法多用於儀器無法直接測量的內表面，可將壓模用塑料材料製成塊狀，貼在被測面上，取下後在層壓面上複製被測表面的輪廓， 然後測量印模以確定其粗糙度等級。

4）綜合測量方法：利用被測表面的一定特性間接評價表面粗糙度水平，但不能測量峰谷不均勻高度的具體值。

1）直接測量方式，直接測量分為接觸式測量和非接觸式測量。

2）比較測量方法。

3）印象法。

4）全面的測量方法。

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表示表面粗糙度的方法有很多種，但這裡有三種最常見的表面粗糙度表示，以及它們的定義和公式。

常見的表面粗糙度表示法：

ra = 中心線平均粗糙度。

在曲面輪廓曲線上設定長度l，以長度的中心為x軸，將長度中所有斜線的面積之和除以測量長度l得到的值。 也就是說，RA。

公式：ra=|f(x)|dx / l

ry = 最大粗糙度。

最大粗糙度值 rmax ry 是長度 l 中曲線最高峰到最低谷的垂直距離。 （Rmax 和 Ry 演算法具有相同的概念，但取樣的峰值和谷值不同。 近年來，RY幾乎取代了RMAX）。

公式：rmax=ry=rp+rv

rz = 10 點平均粗糙度。

在表面剖面曲線上提取長度L，在曲線中心測量高度與第五峰和第五波谷之間的距離，即Rz。

公式：rz=|y1+y2+y3+y4+y5|+|y1+y2+y3+y4+y5| / 5

三者之間的關係約為 4ra ry rz，單位為 um。

面部粗糙度陷阱。

表面粗糙度值相同，但峰谷模式不同。

結論雖然表面粗糙度值是量化表面狀態的結果，使處理器有參考依據和標準，但數值相同，實際表面型別可能仍不同！

在追求更精確和更細緻的表面時，有必要意識到距離是相同的，但到達比到達更具挑戰性。 （表示更近、更均勻的峰谷距離。 在選擇刀具和設定磨削條件的概念上可能存在差異，而不僅僅是在砂輪砂礫方面。

如果我們能有這個認知基礎，我們就不會陷入數字的神話。

1、比對法：比對法測量簡單，用於車間現場測量，常用於中等或粗糙表面的測量。 該方法是將測量的表面與標有一定值的粗糙度樣品進行比較，以確定要測量的表面粗糙度值的方法。

比對時，要求試樣的加工方法、加工織構、加工方向、材質與被測零件表面相同。

2、光切法：表面粗糙度採用雙管顯微鏡測量，可作為Ry和Rz的引數評價，測量範圍可達50。

3.干涉測量：利用光波干涉原理，將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖案顯示（見平面晶體和雷射長度測量技術），並用高倍率顯微鏡放大測量這些干涉條紋的微觀部分，得到被測表面粗糙度。 使用這種方法測量表面粗糙度的工具稱為干涉顯微鏡。

該方法適用於測量低至微公尺的 Rz 和 Ry 表面粗糙度。

表面粗糙度、粗糙度儀的測試方法，將採用校準測試。